X線回折（XRD）

X線が結晶格子に入射すると回折現象が発生します。回折の角度は結晶方位の構造によって変化します。そのため、回折のピーク位置を測定することで、結晶構造の解析が可能です。

この性質を利用し、物質の結晶構造を分析し、化学分析や化学結合の観察に活かす方法がX線回折（XRD)です。X線結晶構造解析ともよばれます。

主に無機化合物の同定に利用したり、同一化合物での結晶構造の違いや、配向性の違いの分析にも利用されたりしています。

X線回折では結晶構造を解析するため、結晶構造をもたない非晶質のガラスやアモルファスなどは解析が困難になります。

X線回折で物質にX線を照射する際にはX線発生装置が必要になります。松定プレシジョンでは、X線を発生させるためのフィラメント加熱用電源や熱電子の加速用電源の他に、それらの電源を一体化したX線管用の複合電源を取りそろえています。

関連ワード:

用途・事例